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HX-320X荧光光谱仪

HX-320X荧光光谱仪

型号 : HX - 320
功能 : 镀层测厚、合金成分分析、材料成分分析
材料 :
描述 : 合金分析就是采用XRF(X射线荧光光谱)分析原理来分析合金元素成份/含量以及合金牌号,XRF分析原理是目前世界最先进的合金分析原理,相比传统的化学分析方法来说,XRF分析可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位,逐渐取代传统化学分析方法。合金分析主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的测定。 合金分析仪也正伴随世界经济的崛起,成为工业和军事制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。
数量:

HX-320能量色散型X射线荧光分析仪

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产品功能:

1.采用行业领先的VisualFP分析算法软件,不依赖大量标样即可应对各种复杂合金成分的测试,合金成分的计算准确性达到业界领先水平。

2.搭载华唯最新VisualFP分析软件,测试数据模型更科学,软件处理的谱形更合理,计算结果更准确。

3.可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存

4.可应用于各种合金、不锈钢牌号识别和土壤、矿石成分分析。

5.专业工业设计,产品外观新颖,配色简洁清新。

6.整机结构人性化设计,测试过程方便轻松。

7.样品移动采用测试舱外部调节,多点测试时移动样品不必打开测试舱,定位准确、方便、快捷,显著提升测试效率。

8.产品安全防护设计更严格,使用软硬件配合、机电联动、迷宫隔断等手段防止辐射泄漏,产品辐射安全指标高于本行业国家标准GBZ115-2002之要求。

 

软件功能介绍

操作简单

 

 

高清CCD观察

 

 

输出格式

 

 

 

 

标准配置

欧盟RoHS标准样品或多元素分析标准块

检验证书

测试液体用的样品杯2个

测试薄膜:一袋

保险管:3支

计算机主机:品牌+双核

显示屏:19吋液晶

打印机:喷墨打印机

 

可选配置

可升级为SDD探测器

可扩充功能范围:材料成分分析(元素分析)

 

 

 

 

 

 

 

产品规格


测试元素范围:Na-U中的元素

探测器类型:Si-PIN电制冷 

探测器分辨率:145eV

高压范围:0-50KV,50W

X光管参数:0-50KV,50W,侧窗类

光管靶材:Mo靶

滤光片:4种复合滤光片自动切换

CCD拍照:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

样品腔尺寸:330*350*75mm;

开盖方式:随意自动停

测试样品种类:液体、固体和粉末

测量范围:1ppm—99.99%

测量用时:120-400秒

测试环境:非真空测试

数据通讯:USB2.0模式

RoHS检出限Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Cl≤50ppm

准直器:Ø0.5mm,Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

软件方法:FlexFP

工作区:开放工作区自定义

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应用领域

用于铜合金、铁合金、铝合金、钛合金、高温合金及各种混杂合金等合金材料内元素成分分析和含量测试;

用于石油化工、精细化工、农业化工、锅炉、容器、制药、电力电站等高温高压行业等金属识别。